AI-techniek ‘decodeert’ microscoopbeelden en overwint daarmee de fundamentele limiet
Credit: Nano-brieven (2024). DOI: 10.1021/acs.nanolett.3c04712 Atoomkrachtmicroscopie, of AFM, is een veelgebruikte techniek die materiaaloppervlakken in drie dimensies kwantitatief in kaart kan brengen, maar de nauwkeurigheid ervan wordt beperkt door de ...