Standaard referentie-uitkragingen voor atoomkrachtmicroscopie veerconstante kalibratie
Platte ontwerpweergave van een enkel SRM 3461-apparaat. Krediet: National Institute of Standards and Technology Atomaire krachtmicroscopie (AFM) is een populaire techniek voor het ondervragen van oppervlakken op micro- en nanoschaal. ...